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    An in-situ high temperature scanning tunnelling microscopy study of the boron-induced √3 × √3 reconstruction on the Si(111) surface

    An in-situ high temperature scanning tunnelling microscopy study of the boron-induced √3 × √3 reconstruction on the Si(111) surface von Wong, T.M.H., McKinnon, A.W., Welland, M.E.

    Veröffentlicht in Surface science

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    Influence of frictional forces on atomic force microscope images

    Influence of frictional forces on atomic force microscope images von O'Shea, S.J., Welland, M.E., Wong, T.M.H.

    Veröffentlicht in Ultramicroscopy

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    Non-contact measurement of sheet resistance and leakage current: applications for USJ-SDE/halo junctions

    Non-contact measurement of sheet resistance and leakage current: applications for USJ-SDE/halo junctions von Faifer, V.N., Current, M.L., Nguyen, T., Wong, T.M.H., Souchkov, V.V.

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