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    A low-noise measurement system for scanning thermal microscopy resistive nanoprobes based on a transformer ratio-arm bridge

    A low-noise measurement system for scanning thermal microscopy resistive nanoprobes based on a transformer ratio-arm bridge von wi tkowski, Micha, Wojtu, Arkadiusz, Wielgoszewski, Grzegorz, Rudek, Maciej, Piasecki, Tomasz, Jó wiak, Grzegorz, Gotszalk, Teodor


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