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    Reliability of T-gate AlGaN/GaN HEMTs

    Reliability of T-gate AlGaN/GaN HEMTs von Burnham, Shawn D., Bowen, Ross, Willadsen, Pete, Bracamontes, Hector, Hashimoto, Paul, Hu, Ming, Wong, Danny, Chen, Mary, Micovic, Miroslav

    Veröffentlicht in Physica status solidi. C

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