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Suchergebnisse - Weppelmann, E.R.
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Acoustic emission and precision force-displacement observations of spherical indentations into TiN films on silicon
von
Shiwa, M.
,
Weppelmann, E.R.
,
Bendeli, A.
,
Swain, M.V.
,
Munz, D.
,
Kishi, T.
Veröffentlicht in
Surface & coatings technology
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Observations and simple fracture mechanics analysis of indentation fracture delamination of TiN films on silicon
von
Weppelmann, E.R.
,
Hu, X.-Z.
,
Swain, M.V.
Veröffentlicht in
Journal of adhesion science and technology
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Von:
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Science Citation Index Expanded (Web Of Science)
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Ingentaconnect Journals
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Taylor & Francis Online
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Elsevier Sciencedirect Journals Complete
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Sciencedirect College Edition
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