-
1
Phenology and ecology of hoverflies (Diptera: Syriphidae) in New Zealand
Veröffentlicht in Environmental entomology
VolltextArtikel -
2
-
3
-
4
-
5
Simulation of focused ion beam milling
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
VolltextArtikel -
6
Influence of X-ray mask repair on pattern placement accuracy
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
VolltextArtikel -
7
-
8
-
9
Repair of clear X-ray mask defects by laser-induced metal deposition
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
VolltextArtikel -
10
Field-assisted photodesorption of He, Ne, Ar, Kr and CO ions from W
Veröffentlicht in Chemical physics
VolltextArtikel -
11
-
12
Laser action in the anode region of a transverse argon discharge
Veröffentlicht in Physics letters. A
VolltextArtikel -
13
-
14
-
15
-
16
Roadmapping - eine Methode für den IKT-Bereich?
Veröffentlicht in Technikfolgenabschätzung – Theorie und Praxis
VolltextArtikel -
17
-
18
-
19
-
20