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In Situ Single-Event Effects Detection in 22-nm FDSOI Flip-Flops
Veröffentlicht in IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
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In-Situ Single-Event Effects Detection in 22 nm FDSOI Flip-Flops
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Long-Run Identification in a Fractionally Integrated System
Veröffentlicht in Journal of business & economic statistics
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Long- versus medium-run identification in fractionally integrated VAR models
Veröffentlicht in Economics letters
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Approximate State Space Modelling of Unobserved Fractional Components
Veröffentlicht in arXiv.org
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