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NEXAFS imaging of synthetic organic materials
Veröffentlicht in Materials today (Kidlington, England)
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Coherent X-ray imaging: bridging the gap between atomic and micro-scale investigations
Veröffentlicht in Chimia
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Characterisation and management of concrete grinding residuals
Veröffentlicht in Waste management & research
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Sub-25nm direct write (maskless) X-ray nanolithography
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Sub-25 nm direct write (maskless) X-ray nanolithography
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Coherent X-ray Imaging: Bridging the Gap between Atomic and Micro-scale Investigations
Veröffentlicht in Chimia
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