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Burnout of Power MOS Transistors with Heavy Ions of Californium-252
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Cosmic Ray Induced Permanent Damage in MNOS EAROMs
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Heavy Ion Induced Permanent Damage in MNOS Gate Insulators
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Trends in Parts Susceptibility to Single Event Upset from Heavy Ions
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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A Radiation-Hard CMOS/SOS ALU
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Fusarium temperatum as a New Species Causing Ear Rot on Maize in Poland
Veröffentlicht in Plant disease
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