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Cyclic Deformation Behaviour of Cu Multilayered Films on Si Substrates
Veröffentlicht in Materials science forum
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The effect of edges on photothermal imaging
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Reconstruction of Depth-Dependent Parameter Profiles Based on Photothermal Measurements
Veröffentlicht in CIRP annals
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Surface smoothing and roughening by dielectric thin film deposition
Veröffentlicht in Applied Optics
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