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    Testing and programming flash memories on assemblies during high volume production

    Testing and programming flash memories on assemblies during high volume production von de Jong, F.G.M., Biewenga, A.S., van Geest, D.C.L., Waayers, T.F.


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    Tagungsbericht

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    Plug & play I/sub DDQ/ monitoring with QTAG

    Plug & play I/sub DDQ/ monitoring with QTAG von Baker, K., Waayers, T.F., Bouwman, F.G.M., Verstraelen, M.J.W.


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    Method for testing a testable electronic device

    Method for testing a testable electronic device von G.A.A. BOS, H.P.E. VRANKEN, T.F. WAAYERS

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    Patent

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