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Empirical model of total internal reflection from highly turbid media
Veröffentlicht in Optics letters
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An undergraduate measurement of radiative broadening in atomic vapor
Veröffentlicht in American journal of physics
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Effects of copper contamination in silicon on thin oxide breakdown
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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Diffusion of iron in silicon dioxide
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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