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Does the Right Go Wrong During Cardiac Resynchronization Therapy?
Veröffentlicht in JACC. Cardiovascular imaging
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Avalanche Breakdown Delay in ESD Protection Diodes
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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Simulation and modelling of VDMOSFET self protection under TLP-stress
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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LBBB and High Afterload: A Dangerous Liaison?
Veröffentlicht in JACC. Cardiovascular imaging
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Characterization and modeling of transient device behavior under CDM ESD stress
Veröffentlicht in Journal of electrostatics
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