Suchergebnisse - WEST BURNELL G

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Open ATE architecture: key challenges von West, B.G.

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Digital synchronization for reconfigurable ATE von West, B.G., Jones, M.F.

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Open architecture ATE: prospects and problems von West, B.G.

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Accuracy requirements in at-speed functional test von West, B.G.

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At-speed structural test von West, B.G.

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Rapid-response temperature control provides new defect screening opportunities von Malinoski, M., West, B.G.

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Test and diagnosis of semiconductors von WEST BURNELL G

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Test and diagnosis of semiconductors von West, Burnell G

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Advanced Test Methodology and Strategies for Semiconductors von West, B.G.

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Strong-Field Stark Effect of Asymmetric-Top Rotator von West, Burnell G., Mizushima, Masataka

Veröffentlicht in The Journal of chemical physics

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Reduced pin count test method and apparatus von West, Burnell G

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Reduced pin count test method and apparatus von WEST BURNELL G

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Circuit and method for distributing events in an event stream von West, Burnell G

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Circuit and method for distributing events in an event stream von WEST BURNELL G

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Biphase vernier time code generator von WEST BURNELL G

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Test system formatters configurable for multiple data rates von West, Burnell G

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Test system formatters configurable for multiple data rates von WEST BURNELL G

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The path to one-picosecond accuracy von Sartori, L., West, B.G.

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Absorption Spectrum of the Oxygen Molecule in the 55-65-Gc/sec Region von West, Burnell G., Mizushima, Masataka

Veröffentlicht in Physical review

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Reduced pin count test method and apparatus von WEST BURNELL G

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Open architecture ATE: prospects and problems von West, B.G.

Accuracy requirements in at-speed functional test von West, B.G.

At-speed structural test von West, B.G.

Rapid-response temperature control provides new defect screening opportunities von Malinoski, M., West, B.G.

Test and diagnosis of semiconductors von WEST BURNELL G

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Advanced Test Methodology and Strategies for Semiconductors von West, B.G.

Strong-Field Stark Effect of Asymmetric-Top Rotator von West, Burnell G., Mizushima, Masataka

Reduced pin count test method and apparatus von West, Burnell G

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Circuit and method for distributing events in an event stream von West, Burnell G

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Biphase vernier time code generator von WEST BURNELL G

Test system formatters configurable for multiple data rates von West, Burnell G

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The path to one-picosecond accuracy von Sartori, L., West, B.G.

Absorption Spectrum of the Oxygen Molecule in the 55-65-Gc/sec Region von West, Burnell G., Mizushima, Masataka

Reduced pin count test method and apparatus von WEST BURNELL G

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