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    Oxide thickness effect and surface roughening in the desorption of the oxide from GaAs

    Oxide thickness effect and surface roughening in the desorption of the oxide from GaAs von VAN BUUREN, T, WEILMEIER, M. K, ATHWAL, I, COLBOW, K. M, MACKENZIE, J. A, TIEDJE, T, WONG, P. C, MITHCELL, K. A. R

    Veröffentlicht in Applied physics letters

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    Ballistic electron transport through Au(111)/Si(111) and Au(111)/Si(100) interfaces

    Ballistic electron transport through Au(111)/Si(111) and Au(111)/Si(100) interfaces von Weilmeier, M. K., Rippard, W. H., Buhrman, R. A.


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    Ballistic-electron-emission microscopy of conduction-electron surface states

    Ballistic-electron-emission microscopy of conduction-electron surface states von Weilmeier, M. K., Rippard, W. H., Buhrman, R. A.


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    Molecular and phenotypic characterization of Pseudomonas spp. isolated from milk

    Molecular and phenotypic characterization of Pseudomonas spp. isolated from milk von WIEDMANN, M, WEILMEIER, D, DINEEN, S. S, RALYEA, R, BOOR, K. J


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