Manufacturing and measurement of freeform optics von Fang, F.Z., Zhang, X.D., Weckenmann, A., Zhang, G.X., Evans, C.

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Geometric error measurement and compensation of machines—An update von Schwenke, H., Knapp, W., Haitjema, H., Weckenmann, A., Schmitt, R., Delbressine, F.

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Computed tomography for dimensional metrology von Kruth, J.P., Bartscher, M., Carmignato, S., Schmitt, R., De Chiffre, L., Weckenmann, A.

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Bulk forming of sheet metal von Merklein, M., Allwood, J.M., Behrens, B.-A., Brosius, A., Hagenah, H., Kuzman, K., Mori, K., Tekkaya, A.E., Weckenmann, A.

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Multisensor data fusion in dimensional metrology von Weckenmann, A., Jiang, X., Sommer, K.-D., Neuschaefer-Rube, U., Seewig, J., Shaw, L., Estler, T.

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Probing Systems in Dimensional Metrology von Weckenmann, A., Estler, T., Peggs, G., McMurtry, D.

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Probing systems for dimensional micro- and nano-metrology von Weckenmann, A, Peggs, G, Hoffmann, J

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Automatic registration method for multisensor datasets adopted for dimensional measurements on cutting tools von Shaw, L, Ettl, S, Mehari, F, Weckenmann, A, Häusler, G

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Automatic registration method for hybrid optical coordinate measuring technology von Shaw, L., Weckenmann, A.

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Reflective property of typical microstructures under a white light interferometer von Sun, Z, Weckenmann, A

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Long Range 3 D Scanning Tunnelling Microscopy von Weckenmann, A., Hoffmann, J.

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Productive Metrology - Adding Value to Manufacture von Kunzmann, H., Pfeifer, T., Schmitt, R., Schwenke, H., Weckenmann, A.

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Practice-oriented evaluation of lateral resolution for micro- and nanometre measurement techniques von Weckenmann, A, Tan, Ö, Hoffmann, J, Sun, Z

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Function-oriented Measurements – The Path from Macro to Micro and Nano Range von Weckenmann, A., Hartmann, W.

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Industrial applications of computed tomography von De Chiffre, L., Carmignato, S., Kruth, J.-P., Schmitt, R., Weckenmann, A.

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Maturity Determination of New Forming Processes Considering Uncertain Indicator Values von Akkasoglu, Goekhan, Weckenmann, Albert

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Measurement technologies for precision positioning von Gao, W., Kim, S.W., Bosse, H., Haitjema, H., Chen, Y.L., Lu, X.D., Knapp, W., Weckenmann, A., Estler, W.T., Kunzmann, H.

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Precision Measurement of Cutting Tools with two Matched Optical 3D-Sensors von Weckenmann, A., Nalbantic, K.

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Monitoring coordinate measuring machines by calibrated parts von Weckenmann, A, Lorz, J

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Electrical probing for dimensional micro metrology von Hoffmann, J., Weckenmann, A., Sun, Z.

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