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Physics of copper in silicon
Veröffentlicht in Journal of the Electrochemical Society
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Impact of stress on the recombination at metal precipitates in silicon
Veröffentlicht in Journal of applied physics
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Intrinsic Diffusion Coefficient of Interstitial Copper in Silicon
Veröffentlicht in Physical review letters
VolltextArtikel -
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Engineering metal-impurity nanodefects for low-cost solar cells
Veröffentlicht in Nature materials
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