Suchergebnisse - WAN, Ifar

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IREM usage in the detection of highly resistive failures on 65nm products von Ifar Wan, Bockelman, D., Yun Xuan, Chen, S.

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INTEGRATED CIRCUIT DEFECT DETECTION AND REPAIR von WAN, Ifar, ZHANG, Yulan, HAMPSON, Christopher W, ZIMMERMAN, David J, ELLIS, David G, MALLELA, Ramakrishna, LUI, William K, SCHOENBORN, Theodore Z, QUERBACH, Bruce

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Infrared Ray Emission (IREM) Based Post-Silicon Power Debug Flows Developed for Chip Power Performance von Chen, Y.-C.S., Lu, D., Bockelman, D., Ma, M., Wan, I.

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Integrated circuit defect detection and repair von Querbach Bruce, Wan Ifar, Schoenborn Theodore Z, Lui William K, Ellis David G, Zhang Yulan, Hampson Christopher W, Zimmerman David J

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Infrared Ray Emission (IREM) Based Post-Silicon Power Debug Flows Developed for Chip Power Performance von Chen, Y.-C.S., Lu, D., Bockelman, D., Ma, M., Wan, I.

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