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Lock-in detector for accelerated nonlinear imaging
Veröffentlicht in Optics letters
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Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization
Veröffentlicht in Optics express
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Low dose hard x-ray contact microscopy assisted by a photoelectric conversion layer
Veröffentlicht in AIP advances
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Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization
Veröffentlicht in Optics express
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Perfect Absorption by an Atomically Thin Crystal
Veröffentlicht in Physical review applied
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