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    A self-consistent hybrid model connects empirical and optical models for fast, non-destructive inline characterization of thin, porous silicon layers

    A self-consistent hybrid model connects empirical and optical models for fast, non-destructive inline characterization of thin, porous silicon layers von Wörnhör, Alexandra, Demant, Matthias, Vahlman, Henri, Rein, Stefan

    Veröffentlicht in EPJ Photovoltaics

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    Inline characterization of stacking faults in EpiWafers

    Inline characterization of stacking faults in EpiWafers von Al-Hajjawi, Saed, Haunschild, Jonas, Wörnhör, Alexandra, Sorgenfrei, Ralf, Schremmer, Hans, Rein, Stefan


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