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    Techniques For Testing Input And Output Buffer Circuits Using A Test Bus

    Techniques For Testing Input And Output Buffer Circuits Using A Test Bus von Voon, Sean Woei, Voon, Wee Sun, Bong, Pai Ho, Lim, Ching Sia

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    Segmented Boundary Scan Chain Testing

    Segmented Boundary Scan Chain Testing von Gupta, Prakhar Raj, Voon, Wee Sun, Tew, Yew Siong, Ong, Andrew Soon Aun, Ooi, Ee Mei, Lim, Ching Sia, Gan, Ann Poh, Tan, Teck Wee Patrick

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