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1
From overall equipment efficiency (OEE) to overall Fab effectiveness (OFE)
von
Oechsner, Richard
,
Pfeffer, Markus
,
Pfitzner, Lothar
,
Binder, Harald
,
Müller, Eckhard
,
Vonderstrass, Thomas
Veröffentlicht in
Materials science in semiconductor processing
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Einrichtung zur Steuerung von in der Halbleiterindustrie vorgesehenen Fertigungsmaschinen
von
RUPP, GERHARD
,
VONDERSTRASS, THOMAS
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Production machine control unit for semiconductor industry
von
RUPP, GERHARD, 93183 KALLMUENZ, DE
,
VONDERSTRASS, THOMAS., 85622 FELDKIRCHEN, DE
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Patent
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Climate Change Mitigation Technologies In The Production Orprocessing Of Goods
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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