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MEMS Switches and SiGe Logic for Multi-GHz Loopback Testing
Veröffentlicht in VLSI Design
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Annealing studies of cold-rolled Ni3Al
Veröffentlicht in Journal of materials science
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Metallographic observations of dynamic recrystallization in Ni3Al
Veröffentlicht in Scripta metallurgica
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The effect of grain size on the yield strength of Ni3Al
Veröffentlicht in Acta metallurgica
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