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P-123: Lifetime Measurement and Reliability upon Storage of Thin-Film Encapsulated PIN OLED
von
Maindron, Tony
,
Doyeux, Henri
,
Kanaan, Hani
,
Simon, Jean-Yves
,
Viasnoff, Emile
Veröffentlicht in
SID International Symposium Digest of technical papers
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