Suchergebnisse - Vialletelle, P

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Optimisation of the process control in a semiconductor company: model and case study of defectivity sampling von Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S., Vialletelle, P.

Veröffentlicht in International journal of production research

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Dynamic management of controls in semiconductor manufacturing von Munga, J. N., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

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Finite capacity planning algorithm for semiconductor industry considering lots priority von Mhiri, E., Jacomino, M., Mangione, F., Vialletelle, P., Lepelletier, G.

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A smart sampling algorithm to minimize risk dynamically von Dauzere-Peres, S, Rouveyrol, J, Yugma, C, Vialletelle, P

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5

Front-end, single-wafer diffusion processing for advanced 300-mm fabrication lines von Bensahel, D, Vandelle, B, Morin, C, Martins, J, Galvier, J, Vialletelle, P, Henry, M

Veröffentlicht in Microelectronic engineering

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6

Industrial implementation of a dynamic sampling algorithm in semiconductor manufacturing: Approach and challenges von Munga, J. N., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

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7

Optimized design of control plans based on risk exposure and resources capabilities von Bettayeb, B, Vialletelle, P, Bassetto, S, Tollenaere, M

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8

Optimized management of excursions in semiconductor manufacturing von Munga, Justin Nduhura, Vialletelle, P., Dauzere-Peres, S., Yugma, C.

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Optimizing return on inspection trough defectivity smart sampling von Sahnoun, M, Vialletelle, P, Bassetto, S, Bastoini, S, Tollenaere, M

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A Smart Sampling Scheduling and Skipping Simulator and its evaluation on real data sets von Yugma, C., Dauzere-Peres, S., Rouveyrol, J., Vialletelle, P., Pinaton, J., Relliaud, C.

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11

Importance of Qualification Management for Wafer Fabs von Johnzen, C., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

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12

Optimizing flexibility and equipment utilization through qualification management von Johnzen, C., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

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Achieving Optimal Cycle Time Improvement in a 300-mm Semiconductor Fab Using Dynamic Simulation and Design of Experiments von Mercier, Dominique, Bonnin, Olivier, Vialletelle, Philippe

Veröffentlicht in Simulation (San Diego, Calif.)

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14

A dispatcher simulator for a photolithography workshop von Yugma, C., Riffart, R., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Buttin, F.

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Optimisation of the process control in a semiconductor company: model and case study of defectivity sampling von Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S., Vialletelle, P.

Dynamic management of controls in semiconductor manufacturing von Munga, J. N., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

Finite capacity planning algorithm for semiconductor industry considering lots priority von Mhiri, E., Jacomino, M., Mangione, F., Vialletelle, P., Lepelletier, G.

A smart sampling algorithm to minimize risk dynamically von Dauzere-Peres, S, Rouveyrol, J, Yugma, C, Vialletelle, P

Front-end, single-wafer diffusion processing for advanced 300-mm fabrication lines von Bensahel, D, Vandelle, B, Morin, C, Martins, J, Galvier, J, Vialletelle, P, Henry, M

Industrial implementation of a dynamic sampling algorithm in semiconductor manufacturing: Approach and challenges von Munga, J. N., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

Optimized design of control plans based on risk exposure and resources capabilities von Bettayeb, B, Vialletelle, P, Bassetto, S, Tollenaere, M

Optimized management of excursions in semiconductor manufacturing von Munga, Justin Nduhura, Vialletelle, P., Dauzere-Peres, S., Yugma, C.

Optimizing return on inspection trough defectivity smart sampling von Sahnoun, M, Vialletelle, P, Bassetto, S, Bastoini, S, Tollenaere, M

A Smart Sampling Scheduling and Skipping Simulator and its evaluation on real data sets von Yugma, C., Dauzere-Peres, S., Rouveyrol, J., Vialletelle, P., Pinaton, J., Relliaud, C.

Importance of Qualification Management for Wafer Fabs von Johnzen, C., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

Optimizing flexibility and equipment utilization through qualification management von Johnzen, C., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Yugma, C.

Achieving Optimal Cycle Time Improvement in a 300-mm Semiconductor Fab Using Dynamic Simulation and Design of Experiments von Mercier, Dominique, Bonnin, Olivier, Vialletelle, Philippe

A dispatcher simulator for a photolithography workshop von Yugma, C., Riffart, R., Dauzere-Peres, S., Vialletelle, P., Buttin, F.

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