Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
Vereen, Alexander
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Vereen, Alexander
Treffer
1 - 2
von
2
für Suche '
Vereen, Alexander
'
, Suchdauer: 0,47s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Validation of large area capacitive sensors for impact damage assessment
von
Vereen, Alexander
,
Downey, Austin R J
,
Sockalingam, Subramani
,
Laflamme, Simon
Veröffentlicht in
Measurement science & technology
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Online Implementation of the Local Eigenvalue Modification Procedure for High-Rate Model Assimilation
von
Vereen, Alexander B.
,
Ogunniyi, Emmanuel A.
,
Downey, Austin R. J.
,
Dodson, Jacob
,
Moura, Adriane G.
,
Bakos, Jason D.
Volltext
Buchkapitel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Peer Reviewed
1 Treffer
1
Online Resources
2 Treffer
2
Format
Articles
1 Treffer
1
Book Chapters
1 Treffer
1
Zeitschriftentitel
Measurement Science & Technology
1 Treffer
1
Schlagworte
Composites
1 Treffer
1
Eigenvalue
1 Treffer
1
Engineering
1 Treffer
1
Engineering, Multidisciplinary
1 Treffer
1
Fea
1 Treffer
1
High Rate
1 Treffer
1
Impact Damage
1 Treffer
1
Instruments & Instrumentation
1 Treffer
1
Lemp
1 Treffer
1
Modal Analysis
1 Treffer
1
Science & Technology
1 Treffer
1
Sec
1 Treffer
1
Shm
1 Treffer
1
Technology
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Iop Publishing Journals
1 Treffer
1
Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
1 Treffer
1
Iopscience Extra
1 Treffer
1
Springer Books
1 Treffer
1