Suchergebnisse - Veneklasen, Lee H.

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The continuing development of low‐energy electron microscopy for characterizing surfaces von Veneklasen, Lee H.

Veröffentlicht in Review of scientific instruments

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2

Design of a spectroscopic low-energy electron microscope von Veneklasen, Lee H.

Veröffentlicht in Ultramicroscopy

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3

Paul S. Veneklasen, Father, mentor von Veneklasen, Lee H.

Veröffentlicht in The Journal of the Acoustical Society of America

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4

Oxygen-Processed Field Emission Source von Veneklasen, Lee H., Siegel, Benjamin M.

Veröffentlicht in Journal of applied physics

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5

Scanning versus direct imaging emission microscopy von Veneklasen, Lee H.

Veröffentlicht in Ultramicroscopy

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6

Electron beam lithography and information transfer von Veneklasen, Lee H.

Veröffentlicht in Microelectronic engineering

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7

Electron-optical properties of multiple magnetic prism systems von Maňkoš, Marián, Kolařík, Vladimír, Veneklasen, Lee H.

Veröffentlicht in Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment

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8

DIAGNOSIS OF AN ERROR OF A CHARGED PARTICLE SYSTEM von VENEKLASEN, LEE, H

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9

Charged particle system error diagnosis von VENEKLASEN LEE H

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Charged particle system error diagnosis von Veneklasen, Lee H

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Diagnosis of an error of a charged particle system von LEE H. VENEKLASEN

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DIAGNOSIS OF AN ERROR OF A CHARGED PARTICLE SYSTEM von VENEKLASEN, LEE, H

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13

Annular differential seal for electron beam apparatus using isolation valve and additional differential pumping von VENEKLASEN LEE H

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TETRODE ELECTRON GUN FOR ELECTRONIC BEAM COLUMN von VENEKLASEN LEE H

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Electron beam columns von VENEKLASEN, LEE H

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TETRODE ELECTRON GUN FOR ELECTRON BEAM COLUMNS von VENEKLASEN, LEE H

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Testing of interconnection circuitry using two modulated charged particle beams von MALDONADO JUAN, VENEKLASEN LEE H

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Testing of interconnection circuitry using two modulated charged particle beams von Veneklasen, Lee H, Maldonado, Juan

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Apparatus and method for forming a charged particle beam of arbitrary shape von BABIN SERGEY, VENEKLASEN LEE H

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Apparatus and method for forming a charged particle beam of arbitrary shape von Babin, Sergey, Veneklasen, Lee H

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The continuing development of low‐energy electron microscopy for characterizing surfaces von Veneklasen, Lee H.

Design of a spectroscopic low-energy electron microscope von Veneklasen, Lee H.

Paul S. Veneklasen, Father, mentor von Veneklasen, Lee H.

Oxygen-Processed Field Emission Source von Veneklasen, Lee H., Siegel, Benjamin M.

Scanning versus direct imaging emission microscopy von Veneklasen, Lee H.

Electron beam lithography and information transfer von Veneklasen, Lee H.

Electron-optical properties of multiple magnetic prism systems von Maňkoš, Marián, Kolařík, Vladimír, Veneklasen, Lee H.

DIAGNOSIS OF AN ERROR OF A CHARGED PARTICLE SYSTEM von VENEKLASEN, LEE, H

Charged particle system error diagnosis von VENEKLASEN LEE H

Charged particle system error diagnosis von Veneklasen, Lee H

Diagnosis of an error of a charged particle system von LEE H. VENEKLASEN

DIAGNOSIS OF AN ERROR OF A CHARGED PARTICLE SYSTEM von VENEKLASEN, LEE, H

Annular differential seal for electron beam apparatus using isolation valve and additional differential pumping von VENEKLASEN LEE H

TETRODE ELECTRON GUN FOR ELECTRONIC BEAM COLUMN von VENEKLASEN LEE H

Electron beam columns von VENEKLASEN, LEE H

TETRODE ELECTRON GUN FOR ELECTRON BEAM COLUMNS von VENEKLASEN, LEE H

Testing of interconnection circuitry using two modulated charged particle beams von MALDONADO JUAN, VENEKLASEN LEE H

Testing of interconnection circuitry using two modulated charged particle beams von Veneklasen, Lee H, Maldonado, Juan

Apparatus and method for forming a charged particle beam of arbitrary shape von BABIN SERGEY, VENEKLASEN LEE H

Apparatus and method for forming a charged particle beam of arbitrary shape von Babin, Sergey, Veneklasen, Lee H

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