Suchergebnisse - Van Horn, Jody John | OPAC THWS

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Semiconductor wafer test and burn-in von VAN HORN JODY JOHN, WALKER GEORGE FREDERICK, LEAS JAMES MARC, GARDELL DAVID LEWIS, PERRY CHARLES HAMPTON, PRILIK RONALD, KOSS ROBERT WILLIAM, DINGLE STEVE LEO

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Semiconductor wafer test and burn-in von Leas, James Marc, Koss, Robert William, Van Horn, Jody John, Walker, George Frederick, Perry, Charles Hampton, Gardell, David Lewis, Dingle, Steve Leo, Prilik, Ronald

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SEMICONDUCTOR WAFER TEST AND BURN-IN von VAN HORN JODY JOHN, WALKER GEORGE FREDERICK, LEAS JAMES MARC, GARDELL DAVID LEWIS, PERRY CHARLES HAMPTON, PRILIK RONALD, KOSS ROBERT WILLIAM, DINGLE STEVE LEO

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SEMICONDUCTOR WAFER TEST AND BURN-IN von KOSS, ROBERT WILLIAM, LEAS, JAMES MARC, VAN HORN, JODY JOHN, WALKER, GEORGE FREDERICK, PERRY, CHARLES HAMPTON, GARDELL, DAVID LEWIS, DINGLE, STEVE LEO, PRILIK, RONALD

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SEMICONDUCTOR WAFER TEST AND BURN-IN von VAN HORN, JODY, JOHN, PERRY, CHARLES, HAMPTON, KOSS, ROBERT, WILLIAM, LEAS, JAMES, MARC, WALKER, GEORGE, FREDERICK, DINGLE, STEVE, LEO, GARDELL, DAVID, LEWIS, PRILIK, RONALD

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Semiconductor wafer test and burn-in von WALKER, GEORGE FREDERICK, PRILIK, RONALD, DINGLE, STEVE LEO, VAN HORN, JODY JOHN, GARDELL, DAVID LEWIS, KOSS, ROBERT WILLIAM, PERRY, CHARLES HAMPTON, LEAS, JAMES MARC

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SEMICONDUCTOR WAFER TEST AND BURN-IN von VAN HORN, JODY, JOHN, PERRY, CHARLES, HAMPTON, KOSS, ROBERT, WILLIAM, LEAS, JAMES, MARC, WALKER, GEORGE, FREDERICK, DINGLE, STEVE, LEO, GARDELL, DAVID, LEWIS, PRILIK, RONALD

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SEMICONDUCTOR WAFER TEST AND BURN-IN von VAN HORN, JODY, JOHN, PERRY, CHARLES, HAMPTON, KOSS, ROBERT, WILLIAM, LEAS, JAMES, MARC, WALKER, GEORGE, FREDERICK, DINGLE, STEVE, LEO, GARDELL, DAVID, LEWIS, PRILIK, RONALD

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Method for test optimization using historical and actual fabrication test data von Gattiker, Anne, Bulaga, Raymond, Harris, John, Nigh, Phillip, Noel, Leo, Thibault, William, Van Horn, Jody, Wheater, Donald

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Method for test optimization using historical and actual fabrication test data von VAN HORN JODY J, BULAGA RAYMOND J, WHEATER DONALD L, NIGH PHILLIP J, NOEL LEO A, HARRIS JOHN L, THIBAULT WILLIAM J, GATTIKER ANNE E

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Method for test optimization using historical and actual fabrication test data von Bulaga, Raymond J, Gattiker, Anne E, Harris, John L, Nigh, Phillip J, Noel, Leo A, Thibault, William J, Van Horn, Jody J, Wheater, Donald L

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Method for test optimization using historical and actual fabrication test data von VAN HORN JODY J, BULAGA RAYMOND J, WHEATER DONALD L, NIGH PHILLIP J, NOEL LEO A, HARRIS JOHN L, THIBAULT WILLIAM J, GATTIKER ANNE E

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