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Reliability of ultra-thin buried oxides for multi-VT FDSOI technology
Veröffentlicht in Solid-state electronics
VolltextArtikel -
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Improved GeOI substrates for pMOSFET off-state leakage control
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
VolltextArtikel -
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Reliability of ultra-thin buried oxides for multi-V sub(T) FDSOI technology
Veröffentlicht in Solid-state electronics
VolltextArtikel -
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