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    Algorithm for Surfaces Profiles and Thickness Variation Measurement of a Transparent Plate Using a Fizeau Interferometer with Wavelength Tuning

    Algorithm for Surfaces Profiles and Thickness Variation Measurement of a Transparent Plate Using a Fizeau Interferometer with Wavelength Tuning von Sun, Tao, Zheng, Weiwei, Yu, Yingjie, Yan, Ketao, Asundi, Anand, Valukh, Sergiy

    Veröffentlicht in Applied sciences

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