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    Monitoring of Porous Silicon Layers Used for Epitaxial Wafer Production With Inline Reflectance Spectroscopy

    Monitoring of Porous Silicon Layers Used for Epitaxial Wafer Production With Inline Reflectance Spectroscopy von Vahlman, Henri Johannes, Al-Hajjawi, Saed, Haunschild, Jonas, Wohrle, Nico, Richter, Maxi, Jablonka, Lukas, Schremmer, Hans, Rein, Stefan

    Veröffentlicht in IEEE journal of photovoltaics

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    LeTID mitigation via an adapted firing process in p‐type PERC cells from SMART cast‐monocrystalline, Czochralski and high‐performance multicrystalline silicon

    LeTID mitigation via an adapted firing process in p‐type PERC cells from SMART cast‐monocrystalline, Czochralski and high‐performance multicrystalline silicon von Maischner, Felix, Maus, Stephan, Greulich, Johannes, Lohmüller, Sabrina, Lohmüller, Elmar, Saint‐Cast, Pierre, Ourinson, Daniel, Vahlman, Henri, Hergert, Karin, Riepe, Stephan, Glunz, Stefan, Rein, Stefan

    Veröffentlicht in Progress in photovoltaics

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