Suchergebnisse - VREBOS BRUNO A. R

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Use of Cm and cross product coefficients in influence coefficient algorithms for quantitative XRF analysis von Vrebos, Bruno A. R., Willis, James P.

Veröffentlicht in X-ray spectrometry

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Use of C m and cross product coefficients in influence coefficient algorithms for quantitative XRF analysis von Vrebos, Bruno A. R., Willis, James P.

Veröffentlicht in X-ray spectrometry

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3

Multi-phase solids and the intensity-concentration relationship in X-ray fluorescence analysis: a Monte-Carlo simulation von HELSEN, J. A, VREBOS, B. A. R

Veröffentlicht in Analyst (London)

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4

QUANTITATIVE X-RAY ANALYSIS von VAN DEN HOOGENHOF, Waltherus, VREBOS, Bruno A. R, KOMELKOV, Aleksandr, ZARKADAS, Charalampos, BRONS, Gustaaf Christian, HEGEMAN, Petronella Emerentiana

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5

QUANTITATIVE X-RAY ANALYSIS von HEGEMAN, PETRONELLA EMERENTIANA, BRONS, GUSTAAF CHRISTIAN, ZARKADAS, CHARALAMPOS, VREBOS, BRUNO A. R, KOMELKOV, ALEKSANDR

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6

Quantitative X-ray analysis-multi optical path instrument von Van Den Hoogenhof Waltherus, Hegeman Petronella Emerentiana, Komelkov Aleksandr, Brons Gustaaf Christian, Vrebos Bruno A. R, Zarkadas Charalampos

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7

Examination of material samples von De Lange, Roelof, Vrebos, Bruno A. R

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8

Examination of material samples von DE LANGE ROELOF, VREBOS BRUNO A. R

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9

Quantitative x-ray analysis-multipass instrument von PETRONELLA EMERENTIANA HEGEMAN, GUSTAAF CHRISTIAN BRONS, ALEKSANDR KOMELKOV, BRUNO A. R. VREBOS, WALTHERUS VAN DEN HOOGENHOF, CHARALAMPOS ZARKADAS

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10

DEVICE FOR AND METHOD OF MATERIAL ANALYSIS USING A SHUTTER COMPRISING A CALIBRATION SAMPLE von VREBOS, BRUNO, A., R, DE LANGE, ROELOF

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11

EXAMINATION OF MATERIAL SAMPLES von VREBOS, BRUNO, A., R, DE LANGE, ROELOF

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12

Quantitative Analysis von Mantler, Michael, Willis, James, Lachance, Gerald, Vrebos, Bruno A. R., Mauser, Karl-Eugen, Kawahara, Naoki, Rousseau, Richard M., Brouwer, Peter N.

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$Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurements$

Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurements von VREBOS, BRUNO A. R, VAN DER SLUIS, PAUL, DE BOKX, PIETER K

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QUANTITATIVE X-RAY ANALYSIS METHOD AND MULTI OPTICAL PATH INSTRUMENT von BRUNO A R VREBOS, HEGEMAN PETRONELLA EMERENTIANA, GUSTAAF CHRISTIAN BRONS, ALEKSANDR KOMELKOV, WALTHERUS VAN DEN HOOGENHOF, CHARALAMPOS ZARKADAS

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Use of Cm and cross product coefficients in influence coefficient algorithms for quantitative XRF analysis von Vrebos, Bruno A. R., Willis, James P.

Use of C m and cross product coefficients in influence coefficient algorithms for quantitative XRF analysis von Vrebos, Bruno A. R., Willis, James P.

Multi-phase solids and the intensity-concentration relationship in X-ray fluorescence analysis: a Monte-Carlo simulation von HELSEN, J. A, VREBOS, B. A. R

QUANTITATIVE X-RAY ANALYSIS von VAN DEN HOOGENHOF, Waltherus, VREBOS, Bruno A. R, KOMELKOV, Aleksandr, ZARKADAS, Charalampos, BRONS, Gustaaf Christian, HEGEMAN, Petronella Emerentiana

QUANTITATIVE X-RAY ANALYSIS von HEGEMAN, PETRONELLA EMERENTIANA, BRONS, GUSTAAF CHRISTIAN, ZARKADAS, CHARALAMPOS, VREBOS, BRUNO A. R, KOMELKOV, ALEKSANDR

Quantitative X-ray analysis-multi optical path instrument von Van Den Hoogenhof Waltherus, Hegeman Petronella Emerentiana, Komelkov Aleksandr, Brons Gustaaf Christian, Vrebos Bruno A. R, Zarkadas Charalampos

Examination of material samples von De Lange, Roelof, Vrebos, Bruno A. R

Examination of material samples von DE LANGE ROELOF, VREBOS BRUNO A. R

Quantitative x-ray analysis-multipass instrument von PETRONELLA EMERENTIANA HEGEMAN, GUSTAAF CHRISTIAN BRONS, ALEKSANDR KOMELKOV, BRUNO A. R. VREBOS, WALTHERUS VAN DEN HOOGENHOF, CHARALAMPOS ZARKADAS

DEVICE FOR AND METHOD OF MATERIAL ANALYSIS USING A SHUTTER COMPRISING A CALIBRATION SAMPLE von VREBOS, BRUNO, A., R, DE LANGE, ROELOF

EXAMINATION OF MATERIAL SAMPLES von VREBOS, BRUNO, A., R, DE LANGE, ROELOF

Quantitative Analysis von Mantler, Michael, Willis, James, Lachance, Gerald, Vrebos, Bruno A. R., Mauser, Karl-Eugen, Kawahara, Naoki, Rousseau, Richard M., Brouwer, Peter N.

Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurements von VREBOS, BRUNO A. R, VAN DER SLUIS, PAUL, DE BOKX, PIETER K

QUANTITATIVE X-RAY ANALYSIS METHOD AND MULTI OPTICAL PATH INSTRUMENT von BRUNO A R VREBOS, HEGEMAN PETRONELLA EMERENTIANA, GUSTAAF CHRISTIAN BRONS, ALEKSANDR KOMELKOV, WALTHERUS VAN DEN HOOGENHOF, CHARALAMPOS ZARKADAS

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