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    METHOD OF DETERMINING THERMAL DIFFUSIVITY OF METALS AND SEMICONDUCTORS

    METHOD OF DETERMINING THERMAL DIFFUSIVITY OF METALS AND SEMICONDUCTORS von SIZOV V.E.,SU, VINTSENTS S.V.,SU

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    METHOD OF DETERMINING IMPLANTED ION DOSE AT THE SURFACE OF SEMICONDUCTOR

    METHOD OF DETERMINING IMPLANTED ION DOSE AT THE SURFACE OF SEMICONDUCTOR von MIRGORODSKIJ V.I.,SU, VINTSENTS S.V.,SU, KHALILOV SH.S.,SU

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    METHOD FOR MANUFACTURING OHMIC CONTACTS TO SEMICONDUCTOR DEVICES

    METHOD FOR MANUFACTURING OHMIC CONTACTS TO SEMICONDUCTOR DEVICES von BRYANTSEVA T.A.,SU, YUNEVICH E.O.,SU, LYUBCHENKO V.E.,SU, VINTSENTS S.V.,SU

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