Suchergebnisse - VIGLIANTE, ASSUNTA

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$Application of inline high resolution x-ray diffraction in monitoring Si/SiGe and conventional Si in SOI fin-shaped field effect transistor processes$

Application of inline high resolution x-ray diffraction in monitoring Si/SiGe and conventional Si in SOI fin-shaped field effect transistor processes von Hung, Pui Yee, Kasper, Nikolai, Nadeau, Jim, Ok, Injo, Hobbs, Chris, Vigliante, Assunta

Veröffentlicht in Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

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(Keynote) X-ray Metrology for Advanced Technology Nodes von Vigliante, Assunta, Lin, Wayne J.

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XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer von Vigliante, Assunta

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XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer von Vigliante Assunta

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XRF MEASURING APPARATUS FOR DETECTING CONTAMINANT ON BEVEL OF WAFER von ASSUNTA VIGLIANTE

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Biaxial strain and orbital order in La 2/3Ca 1/3MnO 3 thin films von Alff, Lambert, Philipp, Jan-Boris, Reisinger, Daniel, Gross, Rudolf, Carbone, Gerardina, Vigliante, Assunta, Klein, Jürgen

Veröffentlicht in Physica. B, Condensed matter

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$X-ray diffractometer for grazing incidence diffraction of horizontally and vertically oriented samples$

X-ray diffractometer for grazing incidence diffraction of horizontally and vertically oriented samples von VIGLIANTE, ASSUNTA

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$X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction$

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von VIGLIANTE ASSUNTA

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$X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction$

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von Vigliante, Assunta

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Ab initio calculation of resonant x-ray scattering in manganites von Benedetti, Patrizia, van den Brink, Jeroen, Pavarini, Eva, Vigliante, Assunta, Wochner, Peter

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$X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction$

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von VIGLIANTE ASSUNTA

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$X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction$

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von Vigliante, Assunta

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$X-ray diffractometer for grazing incidence diffraction of horizontally and vertically oriented samples$

X-ray diffractometer for grazing incidence diffraction of horizontally and vertically oriented samples von VIGLIANTE, ASSUNTA

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Röntgendiffraktometer für die Diffraktion von horizontal und vertikal orientierten Proben unter streifendem Einfallswinkel von VIGLIANTE, ASSUNTA

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Encapsulated X-ray mirror von SCHIPPER, ROLF, VIGLIANTE, ASSUNTA, LANGE, JOACHIM, BRUEGEMANN, LUTZ, GERNDT, EKKEHARD

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Encapsulated X-ray mirror von SCHIPPER, ROLF, VIGLIANTE, ASSUNTA, LANGE, JOACHIM, BRUEGEMANN, LUTZ, GERNDT, EKKEHARD

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Search for spin-slip lockins using tailored impurity layers von Conover, M. J., Flynn, C. P., Vigliante, Assunta, Gibbs, Doon

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Application of inline high resolution x-ray diffraction in monitoring Si/SiGe and conventional Si in SOI fin-shaped field effect transistor processes von Hung, Pui Yee, Kasper, Nikolai, Nadeau, Jim, Ok, Injo, Hobbs, Chris, Vigliante, Assunta

(Keynote) X-ray Metrology for Advanced Technology Nodes von Vigliante, Assunta, Lin, Wayne J.

XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer von Vigliante, Assunta

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XRF MEASURING APPARATUS FOR DETECTING CONTAMINANT ON BEVEL OF WAFER von ASSUNTA VIGLIANTE

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Biaxial strain and orbital order in La 2/3Ca 1/3MnO 3 thin films von Alff, Lambert, Philipp, Jan-Boris, Reisinger, Daniel, Gross, Rudolf, Carbone, Gerardina, Vigliante, Assunta, Klein, Jürgen

XRF measurement apparatus for detecting contaminations on bevel of wafer von VIGLIANTE ASSUNTA

X-ray diffractometer for grazing incidence diffraction of horizontally and vertically oriented samples von VIGLIANTE, ASSUNTA

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von VIGLIANTE ASSUNTA

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von Vigliante, Assunta

Ab initio calculation of resonant x-ray scattering in manganites von Benedetti, Patrizia, van den Brink, Jeroen, Pavarini, Eva, Vigliante, Assunta, Wochner, Peter

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von VIGLIANTE ASSUNTA

X-ray diffractometer for high flux grazing incidence diffraction von Vigliante, Assunta

X-ray diffractometer for grazing incidence diffraction of horizontally and vertically oriented samples von VIGLIANTE, ASSUNTA

Röntgendiffraktometer für die Diffraktion von horizontal und vertikal orientierten Proben unter streifendem Einfallswinkel von VIGLIANTE, ASSUNTA

Encapsulated X-ray mirror von SCHIPPER, ROLF, VIGLIANTE, ASSUNTA, LANGE, JOACHIM, BRUEGEMANN, LUTZ, GERNDT, EKKEHARD

Encapsulated X-ray mirror von SCHIPPER, ROLF, VIGLIANTE, ASSUNTA, LANGE, JOACHIM, BRUEGEMANN, LUTZ, GERNDT, EKKEHARD

Search for spin-slip lockins using tailored impurity layers von Conover, M. J., Flynn, C. P., Vigliante, Assunta, Gibbs, Doon

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