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Use of boron-bearing materials to protect metal during teeming
Veröffentlicht in Metallurgist (New York)
VolltextArtikel -
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Dumping of electron heating effects in thermal oxides on Ge-doped silicon
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Determination of the radiation-induced charge centroid in a MIS dielectric
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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