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    Analysis and calculation of the formation of grown-in microdefects in dislocation-free silicon single crystals

    Analysis and calculation of the formation of grown-in microdefects in dislocation-free silicon single crystals von Talanin, V. I., Talanin, I. E., Ustimenko, N. Ph

    Veröffentlicht in Crystallography reports

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    Structural Scheme of Information System for Defect Engineering of Dislocation-free Silicon Single Crystals

    Structural Scheme of Information System for Defect Engineering of Dislocation-free Silicon Single Crystals von I. Talanin, V., E. Talanin, I., Ph. Ustimenko, N.


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