Suchergebnisse - Ullmann Jens

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Application of the Tauc-Lorentz formulation to the interband absorption of optical coating materials von von Blanckenhagen, Bernhard, Tonova, Diana, Ullmann, Jens

Veröffentlicht in Applied Optics

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Low energy ion assisted carbon film growth: methods and mechanisms von Ullmann, Jens

Veröffentlicht in Nuclear instruments & methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms

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Proposal of a novel in situ stress-reducing method for the growth of c-BN von Ullmann, Jens

Veröffentlicht in Thin solid films

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4

PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN Jens

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PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von KRIEGER, GEDALIAHOO, BORTHWICK, JAMES, ULLMANN, JENS

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PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN, Jens, KRIEGER, Gedaliahoo, BORTHWICK, James

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Elektromigrationstester für hohe Kapazität und hohen Strom von Ullmann, Jens

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PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN, Jens, KRIEGER, Gedaliahoo, BORTHWICK, James

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Electromigration tester for high capacity and high current von Ullmann, Jens

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Electromigration tester for high capacity and high current von ULLMANN JENS

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ELECTROMIGRATION TESTER FOR HIGH CAPACITY AND HIGH CURRENT von ULLMANN, JENS

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ELECTROMIGRATION TESTER FOR HIGH CAPACITY AND HIGH CURRENT von ULLMANN JENS

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Pulsed current source with internal impedance matching von Ullmann Jens, Borthwick James, Krieger Gedaliahoo

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VOLTAGE SOURCE MEASUREMENT UNIT WITH MINIMIZED COMMON MODE ERRORS von ULLMANN, JENS

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PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN, Jens, KRIEGER, Gedaliahoo, BORTHWICK, James

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PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von BORTHWICK James, KRIEGER Gedaliahoo, ULLMANN Jens

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Voltage source measurement unit with minimized common mode errors von ULLMANN JENS

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Voltage source measurement unit with minimized common mode errors von Ullmann, Jens

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Method and circuit for electromigration test of electronic device under test von ULLMANN, JENS

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Circuitry with pulsed current source with internal impedance matching and method thereof von KRIEGER, GEDALIAHOO, BORTHWICK, JAMES, ULLMANN, JENS

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PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN Jens

PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von KRIEGER, GEDALIAHOO, BORTHWICK, JAMES, ULLMANN, JENS

PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN, Jens, KRIEGER, Gedaliahoo, BORTHWICK, James

Elektromigrationstester für hohe Kapazität und hohen Strom von Ullmann, Jens

PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN, Jens, KRIEGER, Gedaliahoo, BORTHWICK, James

Electromigration tester for high capacity and high current von Ullmann, Jens

Electromigration tester for high capacity and high current von ULLMANN JENS

ELECTROMIGRATION TESTER FOR HIGH CAPACITY AND HIGH CURRENT von ULLMANN, JENS

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Pulsed current source with internal impedance matching von Ullmann Jens, Borthwick James, Krieger Gedaliahoo

VOLTAGE SOURCE MEASUREMENT UNIT WITH MINIMIZED COMMON MODE ERRORS von ULLMANN, JENS

PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von ULLMANN, Jens, KRIEGER, Gedaliahoo, BORTHWICK, James

PULSED CURRENT SOURCE WITH INTERNAL IMPEDANCE MATCHING von BORTHWICK James, KRIEGER Gedaliahoo, ULLMANN Jens

Voltage source measurement unit with minimized common mode errors von ULLMANN JENS

Voltage source measurement unit with minimized common mode errors von Ullmann, Jens

Method and circuit for electromigration test of electronic device under test von ULLMANN, JENS

Circuitry with pulsed current source with internal impedance matching and method thereof von KRIEGER, GEDALIAHOO, BORTHWICK, JAMES, ULLMANN, JENS

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