Structural changes have in complex alloying white iron during destabilizing heating von U. H. Chabak, V. H. Yefremenko, R. R. Stanishevskyi

Volltext

Reliability of AlGaN/GaN high electron mobility transistors on low dislocation density bulk GaN substrate: Implications of surface step edges von Killat, N., Montes Bajo, M., Paskova, T., Evans, K. R., Leach, J., Li, X., Özgür, Ü., Morkoç, H., Chabak, K. D., Crespo, A., Gillespie, J. K., Fitch, R., Kossler, M., Walker, D. E., Trejo, M., Via, G. D., Blevins, J. D., Kuball, M.

Volltext

Thermal Properties of AlGaN/GaN HFETs on Bulk GaN Substrates von Killat, N., Montes, M., Pomeroy, J. W., Paskova, T., Evans, K. R., Leach, J., Li, X., Ozgur, U., Morkoc, H., Chabak, K. D., Crespo, A., Gillespie, J. K., Fitch, R., Kossler, M., Walker, D. E., Trejo, M., Via, G. D., Blevins, J. D., Kuball, M.

Volltext

Non-Arrhenius Degradation of AlGaN/GaN HEMTs Grown on Bulk GaN Substrates von Tapajna, M., Killat, N., Moereke, J., Paskova, T., Evans, K. R., Leach, J., Li, X., Ozgur, Ü, Morkoc, H., Chabak, K. D., Crespo, A., Gillespie, J. K., Fitch, R., Kossler, M., Walker, D. E., Trejo, M., Via, G. D., Blevins, J. D., Kuball, M.

Volltext