Suchergebnisse - Tupuri, R.S. | OPAC THWS

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A novel functional test generation method for processors using commercial ATPG von Tupuri, R.S., Abraham, J.A.

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2

A Robust Top-Down Dynamic Power Estimation Methodology for Delay Constrained Register Transfer Level Sequential Circuits von Sambamurthy, S., Abraham, J.A., Tupuri, R.S.

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3

Timing verification and delay test generation for hierarchical designs von Krishnamachary, A., Abraham, J.A., Tupuri, R.S.

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4

Hierarchical test generation for systems on a chip von Tupuri, R.S., Abraham, J.A., Saab, D.G.

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5

A novel hierarchical test generation method for processors von Tupuri, R.S., Abraham, J.A.

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6

Test generation for gigahertz processors using an automatic functional constraint extractor von Tupuri, R.S., Krishnamachary, A., Abraham, J.A.

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7

A comprehensive fault model for deep submicron digital circuits von Abraham, J.A., Krishnamachary, A., Tupuri, R.S.

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8

A low-voltage metal-programmable SRAM compiler for gate array von Svejda, F.J., Tupuri, R.S., Madhuri, S., Rath, R.

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9

Method and apparatus for built-in self-repair of memoey storage arrays von R.S. TUPURI, T.J. WOOD, G.D. ZURASKI JR

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Patent

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Automatic Functional Test Generation - A Reality von Tapuri, R.S.

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