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    Assessment of diagnostic test for automated bug localization

    Assessment of diagnostic test for automated bug localization von Tihhomirov, Valentin, Tsepurov, Anton, Jenihhin, Maksim, Raik, Jaan, Ubar, Raimund


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    Localization of Bugs in Processor Designs Using zamiaCAD Framework

    Localization of Bugs in Processor Designs Using zamiaCAD Framework von Tepurov, Anton, Tihhomirov, Valentin, Jenihhin, Maksim, Raik, Jaan, Bartsch, Gunter, Escobar, Jorge Hernan Meza, Wuttke, Heinz-Dietrich


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    Automated Design Error Localization in RTL Designs

    Automated Design Error Localization in RTL Designs von Jenihhin, Maksim, Tsepurov, Anton, Tihhomirov, Valentin, Raik, Jaan, Hantson, Hanno, Ubar, Raimund, Bartsch, Gunter, Escobar, JorgeHernan Meza, Wuttke, Heinz-Dietrich

    Veröffentlicht in IEEE design and test

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