Phosphors for LED-based light sources: Thermal properties and reliability issues von Dal Lago, M., Meneghini, M., Trivellin, N., Mura, G., Vanzi, M., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Recoverable degradation of blue InGaN-based light emitting diodes submitted to 3 MeV proton irradiation von De Santi, C., Meneghini, M., Trivellin, N., Gerardin, S., Bagatin, M., Paccagnella, A., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Investigation of the deep level involved in InGaN laser degradation by deep level transient spectroscopy von Meneghini, M., de Santi, C., Trivellin, N., Orita, K., Takigawa, S., Tanaka, T., Ueda, D., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Degradation of InGaN-based laser diodes analyzed by means of electrical and optical measurements von Meneghini, M., Trivellin, N., Orita, K., Takigawa, S., Tanaka, T., Ueda, D., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Degradation of InGaN/GaN laser diodes investigated by micro-cathodoluminescence and micro-photoluminescence von Meneghini, M., Carraro, S., Meneghesso, G., Trivellin, N., Mura, G., Rossi, F., Salviati, G., Holc, K., Weig, T., Schade, L., Karunakaran, M. A., Wagner, J., Schwarz, U. T., Zanoni, E.

Volltext

Thermally-activated degradation of InGaN-based laser diodes: Effect on threshold current and forward voltage von De Santi, C., Meneghini, M., Marioli, M., Buffolo, M., Trivellin, N., Weig, T., Holc, K., Köhler, K., Wagner, J., Schwarz, U.T., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Leakage current and reverse-bias luminescence in InGaN-based light-emitting diodes von Meneghini, M., Trivellin, N., Pavesi, M., Manfredi, M., Zehnder, U., Hahn, B., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Review on the degradation of GaN-based lateral power transistors von De Santi, C., Buffolo, M., Rossetto, I., Bordignon, T., Brusaterra, E., Caria, A., Chiocchetta, F., Favero, D., Fregolent, M., Masin, F., Modolo, N., Nardo, A., Piva, F., Rampazzo, F., Sharma, C., Trivellin, N., Zhan, G., Meneghini, M., Zanoni, E., Meneghesso, G.

Volltext

Degradation mechanisms of high-power white LEDs activated by current and temperature von Dal Lago, M., Meneghini, M., Trivellin, N., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

ESD on GaN-based LEDs: An analysis based on dynamic electroluminescence measurements and current waveforms von Dal Lago, M., Meneghini, M., De Santi, C., Barbato, M., Trivellin, N., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Extensive Analysis of the Degradation of Blu-Ray Laser Diodes von Meneghini, M., Meneghesso, G., Trivellin, N., Zanoni, E., Orita, K., Yuri, M., Ueda, D.

Volltext

Reliability issues in GaN-based light-emitting diodes: Effect of dc and PWM stress von Meneghini, M., Dal Lago, M., Rodighiero, L., Trivellin, N., Zanoni, E., Meneghesso, G.

Volltext

“Hot-plugging” of LED modules: Electrical characterization and device degradation von Dal Lago, M., Meneghini, M., Trivellin, N., Mura, G., Vanzi, M., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Variations in junction capacitance and doping activation associated with electrical stress of InGaN/GaN laser diodes von de Santi, C., Meneghini, M., Carraro, S., Vaccari, S., Trivellin, N., Marconi, S., Marioli, M., Meneghesso, G., Zanoni, E.

Volltext

Degradation of InGaN-Based Laser Diodes Related to Nonradiative Recombination von Meneghini, M., Trivellin, N., Orita, K., Takigawa, S., Yuri, M., Tanaka, T., Ueda, D., Zanoni, E., Meneghesso, G.

Volltext

Analysis of the Role of Current, Temperature, and Optical Power in the Degradation of InGaN-Based Laser Diodes von Meneghini, M., Trivellin, N., Orita, K., Yuri, M., Ueda, D., Zanoni, E., Meneghesso, G.

Volltext

Current induced degradation study on state of the art DUV LEDs von Trivellin, N., Monti, D., De Santi, C., Buffolo, M., Meneghesso, G., Zanoni, E., Meneghini, M.

Volltext

Degradation of InGaN lasers: Role of non-radiative recombination and injection efficiency von Trivellin, N., Meneghini, M., De Santi, C., Vaccari, S., Meneghesso, G., Zanoni, E., Orita, K., Takigawa, S., Tanaka, T., Ueda, D.

Volltext

Degradation of InGaN-based laser diodes due to increased non-radiative recombination rate von Trivellin, N., Meneghini, M., Zanoni, E., Meneghesso, G., Orita, K., Yuri, M., Tanaka, T., Ueda, D.

Volltext

Early failure of high-power white LEDs for outdoor applications under extreme electrical stress: Role of silicone encapsulant von Caria, A., Fraccaroli, R., Pierobon, G., Castellaro, T., Mura, G., Ricci, P.C., De Santi, C., Buffolo, M., Trivellin, N., Zanoni, E., Meneghesso, G., Meneghini, M.

Volltext