-
1
X-ray production cross sections for Ir and Bi M-subshells induced by electron impact
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
VolltextArtikel -
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
Metallic thin film thickness determination using electron probe microanalysis
Veröffentlicht in X-ray spectrometry
VolltextArtikel -
9
-
10
-
11
-
12
-
13
Structure of the Fe and Ni L X-ray spectra
Veröffentlicht in Journal of analytical atomic spectrometry
VolltextArtikel -
14
-
15
-
16
-
17
-
18
-
19
-
20
Optimization of K-shell intensity ratios in electron probe microanalysis
Veröffentlicht in X-ray spectrometry
VolltextArtikel