Eisen und Stab von Jay, A. H., Stevenson, W. W., Colbeck, E. W., Craven, S. W., Murray, W., Wilkinson, N. T., Agnew, W. J., Treje, R., Benedicks, C., Medwedewa, G. A., Remin, W. P., Willems, F., Berzelius, J. J., Houdremont, Ed, Klinger, P., Blaschczyk, G., Klineer, P., Koch, W.

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Elektroanalyse von Siemens, Halske, Grube, G., Oettel, F., Reinhardt, H., Fetkenheuer, B., Cremer, E., Tutundžic, P. S., Salminen, A., Caley, E. R., Glazunov, A., Krieglstein, J., Brophy, Dorothy H., Smith, E. F., Kollock, L. G., Wagenmann, K., Nichols, M. L., Jewett, E. L., Hölemann, H., Garcia, M., Fitterer, G. R., Treje, R., Benedicks, C., Clarke, B. L., Hermance, H. W., Scheermesser, Schmidt, E., Tornow, E., Heyrovský, J., Kemula, W., Suchý, K., Prajzler, J., Schleicher, A.

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