Propagation of Crystal Defects during Directional Solidification of Silicon via Induction of Functional Defects von Krenckel, Patricia, Hayama, Yusuke, Schindler, Florian, Trötschler, Theresa, Riepe, Stephan, Usami, Noritaka

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3D visualization of growth interfaces in cast Si ingot using inclusions distribution von Kamibeppu, Soichiro, Krenckel, Patricia, Trötschler, Theresa, Hess, Adam, Riepe, Stephan, Usami, Noritaka

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About the relevance of defect features in as-cut multicrystalline silicon wafers on solar cell performance von Kovvali, Aditya, Demant, Matthias, Trötschler, Theresa, Haunschild, Jonas, Rein, Stefan

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データ科学的手法を用いた多結晶Siインゴット中の転位クラスター生成点の解析 von 羽山, 優介, Patricia, Krenckel, Theresa, Trötschler, 松本, 哲也, 村松, 哲郎, 沓掛, 健太朗, 工藤, 博章, Stephan, Riepe, 宇佐美, 徳隆

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Development of high performance multicrystalline silicon with controlled seeding von Hess, Adam, Krenckel, Patricia, Trötschler, Theresa, Fehrenbach, Tobias, Riepe, Stephan

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"Inspektion von Epi-Wafern und deren Vorstufen" (Epi-Inspec) : Abschlussbericht Verbundforschungsvorhaben : Teilprojekt Fraunhofer ISE "Methoden der Inline-Inspektion und deren Gru... von Rein, Stefan, Haunschild, Jonas, Vahlman, Henri, Demant, Matthias, Sorgenfrei, Ralf, Schindler, Florian, Al-Hajjawi, Saed, Schönauer, Jonas, Trötschler, Theresa, Dakle, Jonas, Heinz, Friedemann D.

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