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GaN Thin Films on SiC Substrates Studied Using Variable Energy Positron Annihilation Spectroscopy
von
Xie, M.H.
,
Tu, J.
,
Anwand, W.
,
Shan, Y.Y.
,
Beling, C.D.
,
Brauer, Gerhard
,
Hu, Y.F.
,
Fung, S.
,
Tong, D.S.Y.
,
Cheung, S.H.
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Materials science forum
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