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Cryogenic Total-Ionizing-Dose Response of 4th-Generation SiGe HBTs Using 1-MeV Electrons for Europa-Surface Applications
von
Teng, Jeffrey W.
,
Nergui, Delgermaa
,
Tzintzarov, George N.
,
Ringel, Brett L.
,
Brumbach, Zachary R.
,
Heimerl, Justin P.
,
Mensah, Yaw A.
,
Moody, Jackson P.
,
Thorbourn, Dennis O.
,
Castillo, Linda Del
,
Mojarradi, Mohammad M.
,
Blalock, Benjamin J.
,
Cressler, John D.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on nuclear science
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Artikel
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2
Characterization of Radiation Hardened Bipolar Linear Devices for High Total Dose Missions
von
McClure, S. S.
,
Harris, R. D.
,
Rax, B. G.
,
Thorbourn, D. O.
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3
Compendium of Recent Total Ionizing Dose Test Results Conducted by the Jet Propulsion Laboratory from 2003 through 2009
von
Kenna, A.J.
,
Rax, B.G.
,
Thorbourn, D.O.
,
Harris, R.D.
,
McClure, S.S.
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