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    Techniques to reduce data volume and application time for transition test

    Techniques to reduce data volume and application time for transition test von Xiao Liu, Hsiao, M., Chakravarti, S., Thadikaran, P.J.


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    Simulation and generation of IDDQ tests for bridging faults in combinational circuits

    Simulation and generation of IDDQ tests for bridging faults in combinational circuits von Chakravarty, S., Thadikaran, P.J.

    Veröffentlicht in IEEE transactions on computers

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    Simulation and generation of I/sub DDQ/ tests for bridging faults in combinational circuits

    Simulation and generation of I/sub DDQ/ tests for bridging faults in combinational circuits von Chakravarty, S., Thadikaran, P.J.

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    STEM: a framework for simulating and selecting I/sub DDQ/ measurement points for leakage faults

    STEM: a framework for simulating and selecting I/sub DDQ/ measurement points for leakage faults von Chakravarty, S., Zachariah, S.T., Thadikaran, P.J.

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  5. 5
    Novel ATPG algorithms for transition faults

    Novel ATPG algorithms for transition faults von Xiao Liu, Hsiao, M.S., Chakravarty, S., Thadikaran, P.J.


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