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Critical dimension metrology using Raman spectroscopy
Veröffentlicht in Applied physics letters
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InGaAs Gate-All-Around Nanowire Devices on 300mm Si Substrates
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Preface: A Special Issue about Parables
Veröffentlicht in NTT journal for theology and the study of religion
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Critical dimension metrology using Raman spectroscopy
Veröffentlicht in APPLIED PHYSICS LETTERS
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Midrash Tanḥuma. Volume III. Numbers and Deuteronomy (review)
Veröffentlicht in The Jewish quarterly review
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