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Hardness assurance methods for radiation degradation of optocouplers
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Single-Event Transients in Voltage Regulators
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Radiation Damage in Power MOSFET Optocouplers
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Catastrophic latchup in a CMOS operational amplifier
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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Latent damage in CMOS devices from single-event latchup
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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