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MSDFEN: Multi-scale dynamic feature extraction network for pathological voice detection
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Repair Engineering of Crystal Structure in van der Waals Materials by Probe Electron Beam
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I 4/ mcm -Si 48 : An Ideal Topological Nodal-Line Semimetal
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I4/mcm-Si48: An Ideal Topological Nodal-Line Semimetal
Veröffentlicht in ACS materials letters
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