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    Effects of the Cu off-stoichiometry on transport properties of wide gap p-type semiconductor, layered oxysulfide LaCuSO

    Effects of the Cu off-stoichiometry on transport properties of wide gap p-type semiconductor, layered oxysulfide LaCuSO von Goto, Yosuke, Tanaki, Mai, Okusa, Yuki, Shibuya, Taizo, Yasuoka, Kenji, Matoba, Masanori, Kamihara, Yoichi

    Veröffentlicht in arXiv.org

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